微區X射線熒光分析儀Atlas
微區X射線熒光分析儀Atlas，作為一款能量色散型X射線熒光分析儀（EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等諸多性能指標表現優異，目前Atlas有兩個型號M和X（尺寸更大）。
| 參考 | 溫度/濕度范圍 | 內部尺寸（WxHxD）mm | 產品數據表 | 說明書 |
|---|
| 參考 | 描述 |
|---|---|
| 介紹 | IXRF專注于精確地微區痕量元素分析產品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線熒光（XRF） |
| 硬件 | 作為一款臺式XRF，Atlas-M型號的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉體積，相對應的是較大的樣品臺行程以及最重的載重量，而與此同時，卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s，移動精度≤1μm。 其采用的毛細管聚焦技術，可將束斑縮至5μm，另外也可通過選用準直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內可調；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。 |
| 軟件 | 作為曾因其軟件研發能力而獲得英國政府頒發的千禧年大獎的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開發上沿襲了其一貫的專業性及開放性。在數據的獲取及處理上，可實現數據的一鍵采集，或自動或手動的鑒別樣品成分，并利用FP建模或quantitative match等功能實現樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對獲取的圖像進行拼接，還可實現相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態學上的測量及成分分析等功能；在面分布及線掃描方面，可同時獲得多達35種元素的信息，并且實現單像素的譜圖數據采集，并可完全保存下來，后續仍可繼續對此數據進行點線面等處理。 |
| 應用 | 可在各種環境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實現無損分析。 |
| 特點 | 束斑尺寸最小可達5μm；大樣品臺行程（320×320×120mm），移動速度可達300mm/s；多達8片的濾波片選擇； |
| 用途 | 地礦文博； 電子器件； 刑偵醫學； 醫藥檢測； 環境監測。 |
| 參考 | 描述 |
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| 樣品類型 | 固、液、顆粒、粉末 |
| 測試介質 | 空氣、真空、氦氣 |
| 激發源 | 12-50W,0-50kV,200 μA-1mA |
| 元素分析范圍 | Na-U |
| 樣品臺 | X、Y、Z三軸可動，320x320mm可移動范圍，載重10Kg |
| Mapping最大尺寸 | 220x200mm |
| 樣品移動速度 | 300mm/s |
| 探測器 | SDD |
| 分辨率 | 135-145ev |
| 活區面積 | 50-150mm2 |
| 靶材 | 銠（其他可選） |
| 束班尺寸 | 5m-1000 μm連續可調 |
| 濾片 | 8片 |
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