試驗?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫?/span>:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標(biāo)的情況;2.:生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;
3.對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收;
4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理;
5.為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗辦案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
試驗辦法分類
對于不同的產(chǎn)品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗辦法。可靠性試驗有多種分類方法:一、如以環(huán)境條件來劃分可分 為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗;
二、 以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗;
三、若按試驗?zāi)康膩韯澐郑瑒t可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗;
歸結(jié)為集成電路產(chǎn)品可靠性試驗的目的通常有如下幾方面：
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性到達預(yù)定指標(biāo)的狀況；
2.消費階段為監(jiān)控消費過程提供信息；
3.對定型產(chǎn)品進行可靠性審定或驗收；
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